广立微发布新一代T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统-- 迪族网

广立微发布新一代T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统

来源：集微网　2023-07-04 06:45:38

【资料图】

近日，杭州广立微电子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列产品是对公司现有并行perpin测试设备T4100S的重要补充，能够覆盖不同用户的使用需求。T4000的上市进一步拓展了公司的产品线，标志着广立微在晶圆级电性测试设备领域取得了又一重大突破。

T4000通用型高性能半导体参数测试系统可覆盖LOGIC，CIS, DRAM, SRAM, FLASH, BCD等所有产品的测试需求，支持第三代化合物半导体（SiC/GaN）的参数测试。

该系统拥有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配各类主流WAT探针卡，支持国际上各主要型号的探针台，能够高效完成所有常规WAT参数、常规WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可广泛应用于WAT, WLR及SPICE等领域。

相比市场上同类设备，T4000系列测试每片晶圆所需的时间大幅度缩短，提升幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更适合对成本较为敏感的8英寸及以下产线。因其功能全面、稳定性高、兼容性好，不仅可以用于新的产线，还可用于替代原有晶圆厂老旧的测试设备。

T4000系列主要优势

作为广立微自主研发的通用型半导体参数测试系统，T4000系列采用了新一代超低漏电可扩展矩阵开关，具有精度高、速度快、灵活配置的特点，最高支持100 个测量引脚，实现多个module并行测试。由于其结构设计先进，具备完善的自检和自校准功能，因此系统的稳定性和一致性均得到显著提升。T4000系列根据不同需求和使用场景，提供了三个主要型号，方便客户选择。

T4000系列型号配置表

自2010年开始投入研发以来，广立微一直致力于开发和提供技术领先、具有国际竞争力的半导体参数测试系统，现已发展成为国内唯一能够向集成电路量产线供应WAT测试设备的企业。经过20多条客户产线上百台设备的长期验证，广立微的WAT测试设备具有质量可靠、功能齐全、一致性强、测量精度高、测试效率快、交货周期短、服务保障好等特点。此次广立微推出T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统，必将为公司的业务拓展注入新的动能。

未来，广立微将继续打造更多具有国际竞争力的技术创新与差异化产品，为客户和市场提供性能优越、生产效率高和性价比高的测试设备解决方案，为客户创造更大价值。

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